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9030100000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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离子射线的测量或检验仪器及装置 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:品牌（中文或外文名称）|5:型号|6:GTIN|7:CAS|8:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030201000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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300兆赫以下的通用示波器 指测试频率小于300兆赫兹的示波器 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:频率|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
80% |
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9030209000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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其他示波器 包括300兆赫兹的通用示波器 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:频率|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030311000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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不带记录装置的五位半及以下的数字万用表 用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:量程|5:是否带记录装置|6:品牌（中文或外文名称）|7:型号|8:GTIN|9:CAS|10:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
130% |
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9030319000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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不带记录装置的其他万用表 用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:量程|5:是否带记录装置|6:品牌（中文或外文名称）|7:型号|8:GTIN|9:CAS|10:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030320000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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带记录装置的万用表 用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:量程|5:是否带记录装置|6:品牌（中文或外文名称）|7:型号|8:GTIN|9:CAS|10:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030331000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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不带记录装置的五位半及以下的数字电流、电压表 用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:量程|5:是否带记录装置|6:品牌（中文或外文名称）|7:型号|8:GTIN|9:CAS|10:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
130% |
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9030332000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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不带记录装置的电阻测试仪 用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:是否带记录装置|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
10% |
80% |
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9030339000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器 用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:是否带记录装置|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030390000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器 万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:是否带记录装置|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030401000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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12.4千兆赫兹以下数字式频率计 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:测试频率|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
80% |
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9030409000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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其他无线电通讯专用仪器及装置 12.4千兆赫兹以下数子式频率计除外 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:测试频率|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030820000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:是否带记录装置|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:测试结果显示内容（例如，电压值、电流值等）|8:GTIN|9:CAS|10:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030841000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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电感及电容测试仪 装有记录装置的 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:是否带记录装置|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
80% |
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9030849000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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其他电量的测量或检验仪器及装置 装有记录装置的 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:是否带记录装置|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030891000 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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其他电感及电容测试仪 未装有记录装置的 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:是否带记录装置|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
80% |
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9030899010 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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中子探测和测量仪表 专用于测定核反应堆堆芯内中子通量的 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:是否带记录装置|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
3 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030899090 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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其他电量的测量或检验仪器及装置 未装有记录装置的 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途|3:功能|4:是否带记录装置|5:品牌（中文或外文名称）|6:型号|7:GTIN|8:CAS|9:其他 |
台 |
无 |
无 |
13% |
0% |
20% |
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9030900010 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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用于声表面滤波器测试的测试头 频率带宽在81GHZ以上，且探针最小间距在周围排列下为50微米，阵列下为180微米 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途（适用于XX品牌XX机或通用于XX机等）|3:品牌（中文或外文名称）|4:型号|5:GTIN|6:CAS|7:其他 |
千克 |
无 |
无 |
13% |
0% |
17% |
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9030900090 [类注] |
[章注] |
[子目注释] |
[详情]
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品目9030所属货品的其他零件及附件 |
0:品牌类型|1:出口享惠情况|2:用途（适用于XX品牌XX机或通用于XX机等）|3:品牌（中文或外文名称）|4:型号|5:GTIN|6:CAS|7:其他 |
千克 |
无 |
无 |
13% |
0% |
17% |
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